RS804T TEC三温误码率测试仪是集800G误码率测试仪、MCB板、TEC温控单元的误码测试系统，主要对光模块进行高温、常温、低温工况测试，由设备创造不同的温度环境，将模块温度升或降到设定值，对光模块进行误码等各项测试，检测光模块各项参数是否正常。
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RS1600A-8是一款面向 400G~1600G 高速串行信号测试的旗舰级比特误码分析仪（BERT），专注于物理层表征、一致性测试及高端模块研发验证。产品全面兼容 PAM4/NRZ 双信号制式，凭借宽速率适配、高信号质量及丰富测试功能，可满足光模块、高速互连、芯片等领域的严苛测试需求，为研发、生产及认证提供一站式解决方案。
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RS164T TEC三温误码率测试仪是集1.6T误码率测试仪、MCB板、TEC温控单元的误码测试系统，主要对光模块进行高温、常温、低温工况测试，由设备创造不同的温度环境，将模块温度升或降到设定值，对光模块进行误码等各项测试，检测光模块各项参数是否正常。
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RS10800A-8系列是一款经济高效、易于使用的800Gbps多信道BERT。它可用于在研发和制造环境中测试组件、电缆、光学模块和系统。它支持多数据速率和NRZ/PAM4/PAM4+FEC模式，以满足不同的要求。
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RS10400A-8 BERT是一款多通道，多速率，高性能，高质量的误码率分析仪. 可以用于物理层和一致性测试，凭借其独有的多道射频信号及自定义速率测试，单独速率支持，互联互通功能，以及其从低速部分9.953G-14G（PAM4:19.906G-28G）和高速18G-28G（PAM4:36G-56G）的连续高带宽性能
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RS15100A-12是一款多通道，多速率，高性能，高质量的误码率分析仪. 它包含码型产生器、时钟产生、恢复电路、误码分析器；可以用于物理层和一致性测试，凭借其独有的多道射频信号及自定义速率测试，单独速率支持和互联互通功能以及其从低速部分9.953G到15G和高速部分23G到31G的连续高带宽性能。
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RS15100A-4是一款多通道，多速率，高性能高质量的误码分析测试仪. 它包含一个码型产生器、时钟产生和恢复电路、误码分析器；提供集成的计算机图形界面接口实现RS15100A-4 BERT的控制。
还可以提供可选的DLL 软件接口供用户编程；较低的功耗和紧凑的尺寸。
RS1516B-4是一款多通道，多速率，高性能高质量的误码分析仪. 它包含一个码型产生器、时钟产生和恢复电路、误码分析器；提供集成的计算机图形界面接口实现RS1516B-4 BERT的控制。还可以提供可选的DLL 软件接口供用户编程；较低的功耗和紧凑的尺寸。
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RS1516AB-4是一款多通道，多速率，高性能高质量的误码分析测试仪. 它包含一个码型产生器、时钟产生和恢复电路、误码分析器；提供集成的计算机图形界面接口实现RS1516AB-4 BERT的控制。
还可以提供可选的DLL 软件接口供用户编程；较低的功耗和紧凑的尺寸。
RS1516AB-2是一款多通道，多速率，高性能高质量的误码分析仪. 它包含一个码型产生器、时钟产生和恢复电路、误码分析器；提供集成的计算机图形界面接口实现RS1516AB-2 BERT的控制。
还可以提供可选的DLL 软件接口供用户编程；较低的功耗和紧凑的尺寸。
RS1516AB是一款多速率选择，高性能高质量的误码分析仪. 它包含一个码型产生器、时钟产生和恢复电路、误码分析器；提供集成的计算机图形界面接口实现RS1516AB的控制。还可以提供可选的DLL 软件接口供用户编程；较低的功耗和紧凑的尺寸。
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RS1516A-8是一款多通道，多速率，高性能高质量的误码分析测试仪. 它包含一个码型产生器、时钟产生和恢复电路、误码分析器；提供集成的计算机图形界面接口实现RS1516A-8 BERT的控制。
还可以提供可选的DLL 软件接口供用户编程；较低的功耗和紧凑的尺寸。
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